Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Jakieła, Rafał" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-14 z 14
Tytuł:
Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition
Współwytwórcy:
Uniwersytet Kardynała Stefana Wyszyńskiego w Warszawie. Wydział Matematyczno-Przyrodniczy. Szkoła Nauk Ścisłych
Witkowski, Bartłomiej
Jakieła, Rafał
Krajewski, Tomasz A.
Godlewski, Marek
Wachnicki, Łukasz
Guziewicz, Elżbieta
Łuka, Grzegorz
Instytut Fizyki PAN
Data publikacji:
2009
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
    Wyświetlanie 1-14 z 14

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

    Prześlij opinię

    Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

    Formularz