- Назва:
-
Zakres spektralny kamery termowizyjnej do badań w mikroelektronice
Spectral Range of IR Camera for Research in Microelectronics - Автори:
-
Błąd, G.
Wałach, T. - Теми:
-
termografia
mikroelektronika
niepewność
infrared thermography
microelectronics
uncertainty - Показати більше
- Дата публікації:
- 2009
- Видавець:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Постачальник контенту:
- Biblioteka Nauki
статті