- Tytuł:
- Structural characterization of La1-xSrxCoO3 thin films deposited by pulsed electron deposition method
- Współwytwórcy:
-
Kowalski, Karol (nauki chemiczne). Autor
Cieniek, Łukasz. Autor
Kusiński, Jan. Autor
Kopia, Agnieszka. Autor
Cyza, Anna. Autor - Tematy:
-
Krystalografia rentgenowska
Inżynieria powierzchni
Elektrochemia
Osadzanie elektrolityczne - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2016
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł