- Tytuł:
-
Lifetime prediction method for electron multiplier based on accelerated degradation test
Metoda prognozowania cyklu życia powielacza elektronów oparta na przyspieszonych badaniach degradacji - Autorzy:
-
Wang, Y.
Zhang, C.
Chen, X.
Tan, Y. - Tematy:
-
electron multiplier
accelerated degradation test
lifetime prediction
reliability
powielacz elektronów
przyspieszone badanie degradacji
prognozowanie cyklu życia
niezawodność - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2014
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł