- Tytuł:
- A comparison of various imaging modes in scanning electron microscopy during evaluation of selected Si/refractory sessile drop couples after wettability tests at ultra-high temperature
- Autorzy:
-
Polkowska, A.
Warmuzek, M.
Kalarus, J.
Polkowski, W.
Sobczak, N. - Tematy:
-
scanning electron microscopy
sessile drop method
silicon
refractories
in-lens detectors - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2017
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Odlewnictwa
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł