- Tytuł:
- Leakage Current Degradation Due to Ion Drift and Diffusion in Tantalum and Niobium Oxide Capacitors
- Autorzy:
-
Kuparowitz, M.
Sedlakova, V.
Grmela, L. - Tematy:
-
niobium oxide capacitors
tantalum capacitors
leakage current
ion diffusion
ion drift - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2017
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł