- Tytuł:
- Investigation of Misfit Dislocation Sources in GaAs Epitaxial Layers
- Autorzy:
-
Wierzchowski, W.
Mazur, K.
Strupiński, Wł.
Wieteska, K.
Graeff, W. - Tematy:
- 61.10.-i
- Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 1996-03
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł