Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sharma, Mithun" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-10 z 10
Tytuł:
Reduction of defects in the lapping process of the silicon wafer manufacturing: the Six Sigma application
Autorzy:
Sharma, Mithun
Sahni, Sanjeev P.
Sharma, Shilpi
Tematy:
Six Sigma
quality
silicon wafer
lapping
quality control
total thickness variation
wafer manufacturing
jakość
płytka krzemowa
docieranie
kontrola jakości
całkowita zmiana grubości
produkcja płytek
Pokaż więcej
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Politechnika Białostocka. Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-10 z 10

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

    Prześlij opinię

    Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

    Formularz