- Tytuł:
-
Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych
Test Pattern Generator for Delay Faults - Autorzy:
- Rudnicki, T.
- Tematy:
-
MISR
pary testowe
pokrycie uszkodzeń
CUT
test pairs
Cover of Delay Faults
ROM - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2007
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł