Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Fan, Zhengwei" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Lifetime prediction method for MEMS gyroscope based on accelerated degradation test and acceleration factor model
Metoda prognozowania czasu pracy żyroskopu MEMS na podstawie testu przyspieszonej degradacji i modelu współczynnika przyspieszenia
Autorzy:
Liu, Yao
Wang, Yashun
Fan, Zhengwei
Hou, Zhanqiang
Zhang, Shufeng
Chen, Xun
Tematy:
MEMS gyroscope
temperature stress
accelerated degradation test
acceleration factor model
Allan variance
żyroskop MEMS
naprężenie cieplne
test przyspieszonej degradacji
model współczynnika przyspieszenia
wariancja Allana
Pokaż więcej
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

    Prześlij opinię

    Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

    Formularz