- Tytuł:
- Charge pumping characterization of MISFETs with SiO2/BatiO3 as a gate stack
- Współwytwórcy:
-
Sochacki, Mariusz
Głuszko, Grzegorz
Szmidt, Jan
Łukasiak, Lidia
Firek, Piotr
Jakubowski, Andrzej - Data publikacji:
- 2014
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł