Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

On the Symmetry of the Sulfur Pair-Related Defect in Silicon

Tytuł:
On the Symmetry of the Sulfur Pair-Related Defect in Silicon
Autorzy:
Bennebroek, M. T.
Zakrzewski, A.
Frens, A. M.
Schmidt, J.
Tematy:
76.30.Lh
71.55.Ht
Data publikacji:
1993-10
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1993, 84, 4; 725-728
0587-4246
1898-794X
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
A sulfur-related-pair defect in silicon has been studied with optically detected magnetic resonance spectroscopy. Measurement of the angular dependence of the optically detected magnetic resonance signals supplemented by the analysis of the spectrum "quality" yield to the conclusion that the point group symmetry of the defect studied is C$\text{}_{1h}$.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Prześlij opinię

Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

Formularz