- Title:
-
Głębokie centra defektowe w krzemie o bardzo wysokiej rezystywności
Deep defect centers in ultra-high-resistivity FZ silicon - Authors:
-
Kamiński, P.
Kozłowski, R.
Krupka, J.
Kozubal, M.
Wodzyński, M.
Żelazko, J. - Subject:
-
głębokie centra defektowe
HRPITS
krzem o bardzo wysokiej rezystywności
deep defect centers
ultra-high-resistivity silicon - Publication date:
- 2014
- Publisher:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
- Language:
- Polish
- Rights:
- Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
- Source:
-
Materiały Elektroniczne; 2014, T. 42, nr 4, 4; 16-24
0209-0058 - Data provider:
- Biblioteka Nauki
- Article