- Tytuł:
- Depth Analysis of Crystalline Silicon Used for Radiation-Hard Detectors
- Autorzy:
-
Moloi, S.
McPherson, M. - Tematy:
-
silicon
diffusion
XPS
detectors - Data publikacji:
- 2017-10
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Język:
- angielski
- Prawa:
- Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
- Źródło:
-
Acta Physica Polonica A; 2017, 132, 4; 1387-1392
0587-4246
1898-794X - Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
- Artykuł