- Tytuł:
- Defect Structure of Nitrogen Doped Czochralski Silicon Annealed under Enhanced Pressure
- Autorzy:
-
Misiuk, A.
Wierzchowski, W.
Wieteska, K.
Londos, C.
Andrianakis, A.
Bak-Misiuk, J.
Yang, D.
Surma, B. - Tematy:
-
61.05.cp
61.72.-y
61.72.Ff
61.72.uf
62.50.-p - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2010-02
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł