- Tytuł:
-
Scanning electron microscope at low voltage operation – a unique characterization tool for graphene layers
Skaningowy mikroskop elektronowy pracujący w zakresie niskich wartości napięcia przyspieszającego jako unikatowe narzędzie do charakteryzacji warstw grafenu - Autorzy:
- Jóźwik, I.
- Tematy:
-
graphene
graphene characterization
low-kV scanning electron microscopy
grafen
charakteryzacja grafenu
niskoenergetyczna skaningowa mikroskopia elektronowa - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2016
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł