Autor: Wierzchowski, W. - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Wyznaczenie wybranych parametrów piezoelektrycznych kryształu SrLaGa₃O₇
Determination of selected parameters in SrLaGa₃O₇ crystal
Autorzy:: Sadura, J.
Brzozowski, E.
Wieteska, K.
Wierzchowski, W.
Tematy:: kryształ SrLaGa3O7
akustyczna fala powierzchniowa (SAW)
SrLaGa3O7 crystal
surface acoustic wave (SAW); Pokaż więcej
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Poprawa jakości polerowanych płytek SiC metodą chemicznego utleniania i obróbki termicznej. Badania jakości powierzchni metodami rentgenowskimi
Improvement of the quality of SiC wafers polished using chemical oxidation and heat treatment. Examination of the quality of the surface using X-ray techniques
Autorzy:: Sakowska, H.
Mazur, K.
Teklińska, D.
Wierzchowski, W.
Wieteska, K.
Gała, M.
Tematy:: SiC
utlenianie katalityczne
polerowanie
catalytic oxidation
polishing; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl₂O₄ i ScAlMgO₄ otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl₂O₄ and ScAlMgO₄ crystals grown under different technological conditions
Autorzy:: Wierzbicka, E.
Malinowska, A.
Wierzchowski, W.
Kisielewski, J.
Świrkowicz, M.
Szyrski, W.
Romaniec, M.
Mazur, K.
Tematy:: topografia rentgenowska
MgAl2O4
ScAlMgO4
defekty krystaliczne
metoda Czochralskiego
X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-ray diffraction topography
Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Autorzy:: Wierzchowski, W.
Malinowska, A.
Wieteska, K.
Wierzbicka, E.
Mazur, K.
Lefeld-Sosnowska, M.
Świrkowicz, M.
Łukasiewicz, T.
Tematy:: X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method
dyfrakcyjna topografia rentgenowska
defekty sieci krystalicznej
metoda Czochralskiego; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2016
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Badanie struktury defektowej w nowych rodzajach scyntylacyjnych monokryształów mieszanych granatów lutetowo-itrowo-glinowych [Lu_xY_1-x]₃Al₅O₁₂ (LuYAG) niedomieszkowanych oraz aktywowanych prazeodymem
Investigation of the defect structure in the new types of undoped and Pr-doped scintillator single crystals of mixed lutetium-yttrium-aluminum garnets [Lu_xY_1-x]₃Al₅O₁₂ (LuYAG)
Autorzy:: Malinowska, A.
Wierzbicka, E.
Wierzchowski, W.
Mazur, K.
Romaniec, M.
Kisielewski, J.
Świrkowicz, M.
Szyrski, W.
Drozdowski, W.
Tematy:: dyfrakcyjna topografia rentgenowska
defekty sieci krystalicznej
metoda Czochralskiego
materiały scyntylacyjne
mieszane granaty lutetowo-itrowo-glinowe
X-ray diffraction topography
crystal lattice defects
Czochralski method
scintillator crystals
mixed lutetium-yttrium--aluminum garnets; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Wzrost monokryształów molibdenianu wapnia domieszkowanych jonami ziem rzadkich (CaMoO₄ : RE) do badań w zakresie immobilizacji odpadów radioaktywnych
Single crystal growth of calcium molybdate doped with rare earth ions (CaMoO₄ : RE) for investigation of nuclear waste immobilisation
Autorzy:: Świrkowicz, M.
Szyrski, W.
Kisielewski, J.
Wieteska, K.
Wierzchowski, W.
Malinowska, A.
Wierzbicka, E.
Karaś, A.
Jurkiewicz-Wegner, E.
Tematy:: metoda Czochralskiego
molibdeniany
materiały scyntylacyjne
immobilizacja odpadów radioaktywnych
ziemie rzadkie
ICP-OES
topografia synchrotronowa
Czochralski method
molybdates
scintillator materials
immobilisation of nuclear waste
rare earths
synchrotron topography; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2013
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Szczegóły

Informacja