Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

XPS spectrum for carbon materials derived from coffee ground

Tytuł:: XPS spectrum for carbon materials derived from coffee ground
Autorzy:: Wen, Xin
Współwytwórcy:: Wen, Xin
Tematy:: Chemistry
Wydawca:: RepOD
Dostawca treści:: Repozytorium Otwartych Danych
: Inne

Przejdź do źródła

The surface element composition of samples was characterized by means of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) (VGESCALAB MKII spectrometer using an Al Kα exciting radiation from an X-ray source operated at 10.0 kV and 10 mA). The survey scanning mode was carried out to obtain the low-resolution spectra (0–1200 eV) while the XPSPEAK 4.1 software was applied to further deconvolute the high-resolution C1s spectra (282–292 eV) into four carbon-related Gaussian peaks.

ŚREDNIA OCEN

0,0 / 5

LICZBA OCEN:0

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Prześlij opinię

Twoje opinie są dla nas bardzo ważne i mogą być niezwykle pomocne w pokazaniu nam, gdzie możemy dokonać ulepszeń. Bylibyśmy bardzo wdzięczni za poświęcenie kilku chwil na wypełnienie krótkiego formularza.

Formularz

Informacja

XPS spectrum for carbon materials derived from coffee ground